Optimización del modelo en pequeña señal del transistor bipolar de heterounión de SiGe para altas frecuencias y ruido

El rápido crecimiento de las tecnologías semiconductoras aplicadas a diferentes ramas de la ciencia ha propiciado que el diseño asistido por computadora de tecnologías (CAD, por sus siglas en inglés) se convierta en una parte fundamental del proceso de desarrollo de las mismas. En este trabajo se pr...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autores: Aníbal U. Pacheco-Sánchez, M. César Enciso-Barrón, Luis M. Rodríguez-Mendez, Mauro A. Enciso-Aguilar
Tipo de recurso: artículo
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:2010
País:México
Institución:Instituto Politécnico Nacional
Repositorio:Redalyc-IPN
OAI Identifier:oai:redalyc.org:61415697002
Acceso en línea:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=61415697002
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Ingeniería
CAD
SiGe
parámetros de dispersión
figuras de mérito de ruido
transistor bipolar de heterounión
id MX_caf01bdded82b71ece01ac8a279f6411
oai_identifier_str oai:redalyc.org:61415697002
network_acronym_str MX
network_name_str México
repository_id_str
spelling Optimización del modelo en pequeña señal del transistor bipolar de heterounión de SiGe para altas frecuencias y ruidoAníbal U. Pacheco-SánchezM. César Enciso-BarrónLuis M. Rodríguez-MendezMauro A. Enciso-AguilarIngenieríaCADSiGeparámetros de dispersiónfiguras de mérito de ruidotransistor bipolar de heterouniónEl rápido crecimiento de las tecnologías semiconductoras aplicadas a diferentes ramas de la ciencia ha propiciado que el diseño asistido por computadora de tecnologías (CAD, por sus siglas en inglés) se convierta en una parte fundamental del proceso de desarrollo de las mismas. En este trabajo se presenta el modelado de un transistor bipolar de heterounión de SiGe utilizando el enfoque de circuito eléctrico y el ajuste del mismo para las curvas de los parámetros de dispersión,comparándolas con resultados medidos en laboratorio. Así mismo, se presenta un estudio sobre el ruido del dispositivoInstituto Politécnico Nacional2010info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/articleapplication/pdf1665-0654https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=61415697002Científica (México) Num.3 Vol.14reponame:Redalyc-IPNinstname:Instituto Politécnico Nacionalinstacron:IPNeshttp://www.redalyc.org/revista.oa?id=614Científicainfo:eu-repo/semantics/openAccessoai:redalyc.org:614156970022026-01-29T02:55:26Z
dc.title.none.fl_str_mv Optimización del modelo en pequeña señal del transistor bipolar de heterounión de SiGe para altas frecuencias y ruido
title Optimización del modelo en pequeña señal del transistor bipolar de heterounión de SiGe para altas frecuencias y ruido
spellingShingle Optimización del modelo en pequeña señal del transistor bipolar de heterounión de SiGe para altas frecuencias y ruido
Aníbal U. Pacheco-Sánchez
Ingeniería
CAD
SiGe
parámetros de dispersión
figuras de mérito de ruido
transistor bipolar de heterounión
title_short Optimización del modelo en pequeña señal del transistor bipolar de heterounión de SiGe para altas frecuencias y ruido
title_full Optimización del modelo en pequeña señal del transistor bipolar de heterounión de SiGe para altas frecuencias y ruido
title_fullStr Optimización del modelo en pequeña señal del transistor bipolar de heterounión de SiGe para altas frecuencias y ruido
title_full_unstemmed Optimización del modelo en pequeña señal del transistor bipolar de heterounión de SiGe para altas frecuencias y ruido
title_sort Optimización del modelo en pequeña señal del transistor bipolar de heterounión de SiGe para altas frecuencias y ruido
dc.creator.none.fl_str_mv Aníbal U. Pacheco-Sánchez
M. César Enciso-Barrón
Luis M. Rodríguez-Mendez
Mauro A. Enciso-Aguilar
author Aníbal U. Pacheco-Sánchez
author_facet Aníbal U. Pacheco-Sánchez
M. César Enciso-Barrón
Luis M. Rodríguez-Mendez
Mauro A. Enciso-Aguilar
author_role author
author2 M. César Enciso-Barrón
Luis M. Rodríguez-Mendez
Mauro A. Enciso-Aguilar
author2_role author
author
author
dc.subject.none.fl_str_mv Ingeniería
CAD
SiGe
parámetros de dispersión
figuras de mérito de ruido
transistor bipolar de heterounión
topic Ingeniería
CAD
SiGe
parámetros de dispersión
figuras de mérito de ruido
transistor bipolar de heterounión
description El rápido crecimiento de las tecnologías semiconductoras aplicadas a diferentes ramas de la ciencia ha propiciado que el diseño asistido por computadora de tecnologías (CAD, por sus siglas en inglés) se convierta en una parte fundamental del proceso de desarrollo de las mismas. En este trabajo se presenta el modelado de un transistor bipolar de heterounión de SiGe utilizando el enfoque de circuito eléctrico y el ajuste del mismo para las curvas de los parámetros de dispersión,comparándolas con resultados medidos en laboratorio. Así mismo, se presenta un estudio sobre el ruido del dispositivo
publishDate 2010
dc.date.none.fl_str_mv 2010
dc.type.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/article
format article
status_str publishedVersion
dc.identifier.none.fl_str_mv 1665-0654
https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=61415697002
identifier_str_mv 1665-0654
url https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=61415697002
dc.language.none.fl_str_mv es
language_invalid_str_mv es
dc.relation.none.fl_str_mv http://www.redalyc.org/revista.oa?id=614
dc.rights.none.fl_str_mv Científica
info:eu-repo/semantics/openAccess
rights_invalid_str_mv Científica
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Instituto Politécnico Nacional
publisher.none.fl_str_mv Instituto Politécnico Nacional
dc.source.none.fl_str_mv Científica (México) Num.3 Vol.14
reponame:Redalyc-IPN
instname:Instituto Politécnico Nacional
instacron:IPN
instname_str Instituto Politécnico Nacional
instacron_str IPN
institution IPN
reponame_str Redalyc-IPN
collection Redalyc-IPN
repository.name.fl_str_mv
repository.mail.fl_str_mv
_version_ 1858176991137628160
score 14,964248