Impact of gate tunnelling leakage on CMOS circuits with full open defects

Electronics Letter of the Month

Bibliographic Details
Authors:	Rodríguez Montañés, Rosa\|\|\|0000-0001-6231-0862, Arumi Delgado, Daniel\|\|\|0000-0002-6638-7485, Figueras Pàmies, Joan, Eichenberger, S., Hora, Camelia, Kruseman, B.
Format:	article
Publication Date:	2007
Country:	España
Institution:	Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Repository:	UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Language:	English
OAI Identifier:	oai:upcommons.upc.edu:2117/20118
Online Access:	https://hdl.handle.net/2117/20118 https://dx.doi.org/10.1049/el:20072117
Access Level:	Open access
Keyword:	Metal oxide semiconductors, Complementary CMOS integrated circuits Circuits integrats -- CMOS -- Disseny i construcció Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats

Description
Summary:	Electronics Letter of the Month