Study of the set and reset transitions in HfO2-based ReRAM devices using a capacitor discharge

Producción Científica

Bibliographic Details
Authors: García García, Héctor, Vinuesa Sanz, Guillermo, González Ossorio, Óscar, Sahelices Fernández, Benjamín, Castán Lanaspa, María Helena, Dueñas Carazo, Salvador, Bargalló González, Mireia, Campabadal Segura, Francesca
Format: article
Status:Versión aceptada para publicación
Publication Date:2021
Country:España
Institution:Universidad de Valladolid
Repository:UVaDOC. Repositorio Documental de la Universidad de Valladolid
OAI Identifier:oai:uvadoc.uva.es:10324/48639
Online Access:https://doi.org/10.1016/j.sse.2021.108113
https://uvadoc.uva.es/handle/10324/48639
Access Level:Open access
Keyword:ReRAM devices
Electrical characterization
Hafnium oxide
22 Física
33 Ciencias Tecnológicas
Description
Summary:Producción Científica