RRAM Memories with ALD High-K Dielectrics: Electrical Characterization and Analytical Modeling

Producción Científica

Bibliographic Details
Authors: Castán Lanaspa, María Helena, Dueñas Carazo, Salvador, Sardiña, A., García García, Héctor, Arroval, T., Tamm, A., Jõgiaas, T., Kukli, K., Aarik, Jaan
Format: book part
Status:Published version
Publication Date:2017
Country:España
Institution:Universidad de Valladolid
Repository:UVaDOC. Repositorio Documental de la Universidad de Valladolid
OAI Identifier:oai:uvadoc.uva.es:10324/66228
Online Access:https://uvadoc.uva.es/handle/10324/66228
Access Level:Open access
Keyword:resistive switching
tantalum oxide
titanium oxide
RF impedance
modeling
Description
Summary:Producción Científica

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