Aluminium incorporation in AlGaN/GaN heterostructures: a comparative study by ion beam analysis and X-ray diffraction

Detalles Bibliográficos
Autores:	Redondo-Cubero, Andrés, Gago, R., González-Posada Flores, Fernando, Kreissig, U., Di Forte Poisson, M-A., Braña, A.F., Muñoz Merino, Elias\|\|\|0000-0001-7482-2590
Tipo de recurso:	artículo
Fecha de publicación:	2008
País:	España
Institución:	Universidad Politécnica de Madrid
Repositorio:	Archivo Digital UPM
OAI Identifier:	oai:oa.upm.es:2705
Acceso en línea:	https://oa.upm.es/2705/
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	AlGaN HEMT RBS ERDA XRD

Descripción
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