Estudio de las propiedades ópticas y electrónicas de películas de silicio polimorfo nanoestructurado obtenidas por PEVCD y desarrollo de sistemas y programas para su caracterización
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| Tipo de recurso: | tesis de maestría |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2011 |
| País: | México |
| Institución: | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Repositorio: | Repositorio de Tesis de la UNAM |
| Idioma: | español |
| OAI Identifier: | oai:ru.dgb.unam.mx:20.500.14330/TES01000666972 |
| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000666972 https://tesiunamdocumentos.dgb.unam.mx/ptb2011/febrero/0666972/Index.html |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Propiedades ópticas Materiales nanoestructurados Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| Descripción no disponible. |