Estudio de las propiedades electrónicas y opto-electrónicas de películas de silicio polimorfo nanoestructurado, obtenidas por depósitos químicos en fase vapor asistido por plasma (PECVD)
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| Tipo de documento: | tese |
| Estado: | Versão publicada |
| Data de publicação: | 2010 |
| País: | México |
| Recursos: | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Repositório: | Repositorio de Tesis de la UNAM |
| Idioma: | espanhol |
| OAI Identifier: | oai:ru.dgb.unam.mx:20.500.14330/TES01000656365 |
| Acesso em linha: | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000656365 https://tesiunamdocumentos.dgb.unam.mx/ptd2010/abril/0656365/Index.html |
| Access Level: | Acceso aberto |
| Palavra-chave: | Materiales nanoestructurados Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| Descrição não disponível. |