Transporte electrónico en silicio poroso nanoestructurado

Fil: Marín Ramírez, Oscar Alonso. Universidad Nacional del Litoral. Facultad de Ingeniería Química; Argentina

Detalles Bibliográficos
Autor: Marín Ramírez, Oscar Alonso
Tipo de recurso: tesis doctoral
Estado:Versión aceptada para publicación
Fecha de publicación:2013
País:Argentina
Institución:Universidad Nacional del Litoral
Repositorio:Biblioteca Virtual (UNL)
Idioma:español
OAI Identifier:oai:bibliotecavirtual.unl.edu.ar/handle:11185/641
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/11185/641
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Silcio poroso
Semiconductores nanoestructurados
Contactos metal-semiconductor
Propiedades eléctricas de semiconductores
Propiedades ópticas de semiconductores
Memorias volatiles
Porous silicon
Nanostructured semiconductors
Metal-semiconductor contacts
Electrical properties of semiconductors
Optical properties of semiconductors
volatile memories
Descripción
Sumario:Fil: Marín Ramírez, Oscar Alonso. Universidad Nacional del Litoral. Facultad de Ingeniería Química; Argentina