Simultaneous measurements of small angle x-ray scattering, wide angle x-ray scattering, and dielectric spectroscopy during crystallization of polymers

4 pages, 6 figures.

Detalles Bibliográficos
Autores:	Sics, Igors, Nogales, Aurora, Ezquerra, Tiberio A., Denchev, Zlatan, Baltá Calleja, Francisco José, Meyer, A., Döhrmann, R.
Tipo de recurso:	artículo
Fecha de publicación:	2000
País:	España
Institución:	Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:	DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:	oai:digital.csic.es:10261/21098
Acceso en línea:	http://hdl.handle.net/10261/21098
Access Level:	acceso abierto

Descripción
Sumario:	4 pages, 6 figures.