The use of artificial neural networks in electrostatic force microscopy

The electronic version of this article is the complete one and can be found online at: http://link.springer.com/article/10.1186/1556-276X-7-250

Detalles Bibliográficos
Autores:	Castellano-Hernández, Elena, Serrano Jerez, Eduardo, Varona Martínez, Pablo, Gómez Moñivas, Sacha, Rodríguez Ortiz, Francisco Borja
Tipo de recurso:	artículo
Fecha de publicación:	2012
País:	España
Institución:	Universidad Autónoma de Madrid
Repositorio:	Biblos-e Archivo. Repositorio Institucional de la UAM
Idioma:	inglés
OAI Identifier:	oai:repositorio.uam.es:10486/662634
Acceso en línea:	http://hdl.handle.net/10486/662634 https://dx.doi.org/10.1186/1556-276X-7-250
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Artificial neural networks Electrostatic force microscopy Thin films Informática

Descripción
Sumario:	The electronic version of this article is the complete one and can be found online at: http://link.springer.com/article/10.1186/1556-276X-7-250