Distinguishing magnetic and electrostatic interactions by a Kelvin probe force microscopy– magnetic force microscopy combination

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Detalles Bibliográficos
Autores:	Jaafar, Miriam, Iglesias-Freire, Óscar, Serrano-Ramón, Luis, Ibarra, M. Ricardo, Teresa, José María de, Asenjo Barahona, Agustina
Tipo de recurso:	artículo
Fecha de publicación:	2011
País:	España
Institución:	Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:	DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:	oai:digital.csic.es:10261/47472
Acceso en línea:	http://hdl.handle.net/10261/47472
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Electrostatic interactions Focused electron beam induced deposition Kelvin probe force microscopy Magnetic force microscopy

Descripción
Sumario:	9 páginas, 4 figuras, 1 tabla.-- This is an Open Access article under the terms of the Creative Commons Attribution License.