Effective distance between on-chip decoupling capacitors in standard-cell CMOS digital designs
Research Report. V1. January, 2004. Departament d’Enginyeria Electrònica. UPC
| Autor: | |
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| Tipo de documento: | relatório científico |
| Data de publicação: | 2004 |
| País: | España |
| Recursos: | Universitat Politècnica de Catalunya (UPC) |
| Repositório: | UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC |
| Idioma: | inglês |
| OAI Identifier: | oai:upcommons.upc.edu:2117/438927 |
| Acesso em linha: | https://hdl.handle.net/2117/438927 |
| Access Level: | Acceso aberto |
| Palavra-chave: | Power supply noise (PSN) Design of modern digital ICs Decoupling capacitors (decaps) MOS capacitors Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Circuits electrònics |
| Resumo: | Research Report. V1. January, 2004. Departament d’Enginyeria Electrònica. UPC |
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