Microstructure of Pyramidal Defects in InSb Layers Grown by Atomic Layer Molecular Beam Epitaxy on InP Substrates
PACS.61.72.-y Defects and impurities in crystals, microstructure PACS.68.55.-a Thin film structure and morphology PACS 61.16.-d Electron, ion and scanning probe microscopy
Detalles Bibliográficos
| Autores: |
Ferrer, Juan Carlos,
Peiró, F.,
Cornet, Albert,
Morante, Joan Ramón,
Utzmeier, Thomas,
Briones Fernández-Pola, Fernando |
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| Tipo de recurso: | artículo
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| Fecha de publicación: | 1997 |
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| País: | España |
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| Institución: | Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) |
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| Repositorio: | DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC |
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| OAI Identifier: | oai:digital.csic.es:10261/46953 |
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| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/10261/46953
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| Access Level: | acceso abierto |
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