Compositional depth profiling analysis of thin and ultrathin multilayer coatings by radio-frequency glow discharge optical emission spectroscopy
Parte del número especial: EMRS 2005 Symposium K Protective Coatings and Thin Films (31 May-3 June 2005 • Strasbourg, France)
| Autores: | , , |
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| Tipo de recurso: | artículo |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2006 |
| País: | España |
| Institución: | Universidad de Sevilla (US) |
| Repositorio: | idUS. Depósito de Investigación de la Universidad de Sevilla |
| OAI Identifier: | oai:idus.us.es:11441/147592 |
| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/11441/147592 https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2005.11.064 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Multilayer Hard coatings GDOES Depth resolution Interface |
| Sumario: | Parte del número especial: EMRS 2005 Symposium K Protective Coatings and Thin Films (31 May-3 June 2005 • Strasbourg, France) |
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