Defect recognition by means of light and electron probe techniques for the characterization of mc-Si wafers and solar cells

Producción Científica

Detalles Bibliográficos
Autores:	Moralejo, B., Tejero, A., Hortelano Santos, Vanesa, Martínez Sacristán, Óscar, González Delgado, Manuel Ángel, Jiménez López, Juan Ignacio
Tipo de recurso:	artículo
Fecha de publicación:	2016
País:	España
Institución:	Universidad de Valladolid
Repositorio:	UVaDOC. Repositorio Documental de la Universidad de Valladolid
OAI Identifier:	oai:uvadoc.uva.es:10324/34958
Acceso en línea:	https://doi.org/10.1016/j.spmi.2016.02.005 http://uvadoc.uva.es/handle/10324/34958
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Silicio multicristalino Multicristalline Silicon Corriente inducida por haz de luz Light Beam Induced Current Correiente inducida por electronos Electron Beam Induced Current LBIC EBIC

Descripción
Sumario:	Producción Científica