Current-limiting and ultrafast system for the characterization of resistive random access memories

Detalles Bibliográficos
Autores:	Diaz-Fortuny, Javier\|\|\|0000-0002-8186-071X, Maestro Izquierdo, Marcos\|\|\|0000-0002-8940-9050, Martin Martinez, Javier\|\|\|0000-0001-5938-5898, Crespo Yepes, Albert\|\|\|0000-0003-4618-651X, Rodríguez Martínez, Rosana\|\|\|0000-0002-4565-6703, Nafria, Montserrat\|\|\|0000-0002-9549-2890, Aymerich Humet, Xavier\|\|\|0000-0002-5874-6257
Tipo de recurso:	artículo
Fecha de publicación:	2016
País:	España
Institución:	Universitat Autònoma de Barcelona
Repositorio:	Dipòsit Digital de Documents de la UAB
Idioma:	inglés
OAI Identifier:	oai:ddd.uab.cat:163087
Acceso en línea:	https://ddd.uab.cat/record/163087 https://dx.doi.org/urn:doi:10.1063/1.4954973
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Resistive switching Resistive random acces memories (RRAM) Random telegraph noise Ultrafast measurement

Descripción
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