BPF-Based Thermal Sensor Circuit for On-Chip Testing of RF Circuits

© 2021 by the authors.

Detalles Bibliográficos
Autores: Altet, Josep, Barajas, Enrique, Mateo, Diego, Billong, Alexandre, Aragonés, Xavier, Perpiñà, X., Reverter, Ferran
Tipo de recurso: artículo
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:2021
País:España
Institución:Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:oai:digital.csic.es:10261/227957
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/10261/227957
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:CMOS thermal sensor
CMOS built-in sensor
CMOS integrated circuits
Measurement of RF CMOS circuits
Built-in test and measurement
Descripción
Sumario:© 2021 by the authors.