Bimodal Atomic Force Microscopy with a Torsional Eigenmode for Highly Accurate Imaging of Grain Orientation in Organic Thin Films [Dataset]
Atomic force microscopy data, AFM data.- AFM images can be visualized with Gwyddion (free software)
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| Tipo de recurso: | conjunto de datos |
| Fecha de publicación: | 2025 |
| País: | España |
| Institución: | Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) |
| Repositorio: | DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC |
| OAI Identifier: | oai:digital.csic.es:10261/388498 |
| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/10261/388498 https://doi.org/10.20350/digitalCSIC/17263 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Organic thin films Polycrystalline thin films Grain boundaries Atomic force microscopy Bimodal AFM Torsional eigenmode |
| Sumario: | Atomic force microscopy data, AFM data.- AFM images can be visualized with Gwyddion (free software) |
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