Spectroscopic ellipsometry study of Cu2ZnSnSe4 bulk crystals

5 pags.; 5 figs.; 1 tab.

Detalles Bibliográficos
Autores:	León, M., Levcenko, S., Serna, Rosalía, Bodnar, I. V., Nateprov, A., Guc, M., Gurieva, G., López, N., Merino, J. M., Caballero, Raquel, Schorr, S., Pérez-Rodríguez, A., Arushanov, E.
Tipo de recurso:	artículo
Fecha de publicación:	2014
País:	España
Institución:	Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:	DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:	oai:digital.csic.es:10261/111691
Acceso en línea:	http://hdl.handle.net/10261/111691
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Ellipsometry Dielectric function Copper X-ray diffraction Thin film growth

Descripción
Sumario:	5 pags.; 5 figs.; 1 tab.