Thermal effects on TiN/Ti/HfO2/Pt memristors charge conduction

Producción Científica

Detalhes bibliográficos
Autores:	Jiménez-Molinos, F., Tarre, A., Tamm, A., Kalam, K., Kukli, K., González, M. B., Campabadal Segura, Francesca, Roldán, J. B., Dueñas Carazo, Salvador, Castán Lanaspa, María Helena, Vinuesa Sanz, Guillermo, García García, Héctor
Formato:	artículo
Estado:	Versión publicada
Fecha de publicación:	2022
País:	España
Recursos:	Universidad de Valladolid
Repositorio:	UVaDOC. Repositorio Documental de la Universidad de Valladolid
OAI Identifier:	oai:uvadoc.uva.es:10324/73797
Acesso em linha:	https://doi.org/10.1063/5.0104890 https://uvadoc.uva.es/handle/10324/73797
Access Level:	acceso abierto
Palavra-chave:	Memristor Current-voltage characteristic Semiconductor device modeling Electric measurements Crystallographic defects Resistive switching Thin films Charge transport 2203 Electrónica 3307.90 Microelectrónica

Descrição
Resumo:	Producción Científica