A thorough investigation of the switching dynamics of TiN/Ti/10 nm-HfO2/W resistive memories

Producción Científica

Detalles Bibliográficos
Autores:	Maldonado, D, Vinuesa Sanz, Guillermo, Aldana, S, Aguirre, F.L., Cantudo, A, García García, Héctor, González, M. B., Jiménez Molinos, Francisco, Campabadal Segura, Francesca, Miranda, Enrique, Dueñas Carazo, Salvador, Castán Lanaspa, María Helena, Roldán, J.B.
Tipo de recurso:	artículo
Estado:	Versión publicada
Fecha de publicación:	2024
País:	España
Institución:	Universidad de Valladolid
Repositorio:	UVaDOC. Repositorio Documental de la Universidad de Valladolid
OAI Identifier:	oai:uvadoc.uva.es:10324/62918
Acceso en línea:	https://doi.org/10.1016/j.mssp.2023.107878 https://uvadoc.uva.es/handle/10324/62918
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Dynamical systems Circuits and Systems Resistive switching RRAM Operation dynamics Characterization Kinetic Monte Carlo Compact modeling 2203 Electrónica

Descripción
Sumario:	Producción Científica