A Modular Ring-Oscillator Array Chip for Accurate Stress Testing of CMOS Aging Mechanisms
© 2026, IEEE. -- Early Access
| Autores: | , , , |
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| Tipo de recurso: | artículo |
| Estado: | Versión aceptada para publicación |
| Fecha de publicación: | 2026 |
| País: | España |
| Institución: | Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) |
| Repositorio: | DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC |
| OAI Identifier: | oai:digital.csic.es:10261/417898 |
| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/10261/417898 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Aging Bias temperature instability (BTI) Circuit design CMOS Hot carrier injection Layout Reliability Variability |
| Sumario: | © 2026, IEEE. -- Early Access |
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