Monitoring of argon content in materials

It is reported the possibility of monitoring the presence of argon in the surface layer of materials using the fluorescent emission of characteristic K X-rays of argon by irradiation of the surface of the materials with low energy X-rays. The low energy of these characteristic X-rays, 2,97 keV, make...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autores: Bravo Cabrejos, J. A., Mejía Santillán, M. E.
Tipo de recurso: artículo
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:2013
País:Perú
Institución:Universidad Nacional Mayor de San Marcos
Repositorio:Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcos
Idioma:español
OAI Identifier:oai:revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe:article/8657
Acceso en línea:https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8657
Access Level:acceso abierto
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