Concepción y preparación de un recubrimiento protector en forma de película compósito a base de carburo de titanio
Los nitruros y carburos de metales de transición (p.e. Ti, V, Hf, etc.) son ampliamente conocidos como materiales refractarios debido a sualto punto de fusión, elevada dureza y elevado modulo de Young. Sin embargo, su fragilidad induce una baja resistencia a la fisuración, sobretodo cuando estos mat...
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| Tipo de recurso: | artículo |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2007 |
| País: | México |
| Institución: | Instituto Politécnico Nacional |
| Repositorio: | Redalyc-IPN |
| OAI Identifier: | oai:redalyc.org:57053510 |
| Acceso en línea: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57053510 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Física, Astronomía y Matemáticas TiC fisuración Películas compósito recubrimientos protectores |
| Sumario: | Los nitruros y carburos de metales de transición (p.e. Ti, V, Hf, etc.) son ampliamente conocidos como materiales refractarios debido a sualto punto de fusión, elevada dureza y elevado modulo de Young. Sin embargo, su fragilidad induce una baja resistencia a la fisuración, sobretodo cuando estos materiales se depositan sobre sustratos con un coeficiente de dilatación térmica muy diferente. En el campo de materiales,diversas técnicas de depósito han sido utilizadas para la síntesis de recubrimientos de nitruro y carburo de titanio. Con el propósito de elaborarun recubrimiento duro, refractario e impermeable para proteger un componente metálico de tungsteno expuesto a un metal líquido agresivo,en este estudio se reporta la concepción y la preparación de recubrimientos de TiC a 1000±C por CVD, y recubrimientos a base de TiCy de tipo compósito Ti1¡xWx/TiCx por evaporación reactiva asistida por plasma a 250 y 500±C, respectivamente. El efecto de diferentesparámetros experimentales fue correlacionado con la estructura cristalina, textura, morfología y composición química de los depósitos. Lamicroestructura, el tamaño del cristal y la morfología de las películas se estudi´o por medio de difracción de rayos X (DRX), y microscopíaelectrónica de barrido (MEB). La composición química fue determinada por espectroscopia de electrones Auger (EEA) y microsonda derayos X (EPMA, por sus siglas en inglés). Finalmente, la resistencia a la fisuración fue evaluada después de un tratamiento térmico a 1000±Cpara el caso de recubrimientos elaborados por evaporación reactiva asistida por plasma. |
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