Caracterización de películas delgadas de SnO2 obtenidas sobre vidrio por aspersión pirolítica intermitente para celdas solares tipo Grätzel

Se depositaron películas delgadas de SnO2 sobre sustratos de vidrio por la técnica de aspersión pirolítica intermitente utilizando una solución de SnCl45H2O en metanol. Las películas obtenidas fueron caracterizadas por difracción de rayos X (XRD; X-ray diffraction), espectroscopía UV-VIS, microscopí...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autores: I. Garnica, A. D. Pérez Santiago, Y. Gochi-Ponce, F. Paraguay-Delgado
Tipo de recurso: artículo
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:2013
País:México
Institución:Centro de Investigación en Materiales Avanzados
Repositorio:Redalyc-CIMAV
OAI Identifier:oai:redalyc.org:94228981002
Acceso en línea:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94228981002
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Física, Astronomía y Matemáticas
Casiterita
Celdas solares
Películas delgadas
Aspersión pirolítica
Descripción
Sumario:Se depositaron películas delgadas de SnO2 sobre sustratos de vidrio por la técnica de aspersión pirolítica intermitente utilizando una solución de SnCl45H2O en metanol. Las películas obtenidas fueron caracterizadas por difracción de rayos X (XRD; X-ray diffraction), espectroscopía UV-VIS, microscopía electrónica de barrido (SEM; scanning electron microscopy) y medición de resistividad por el método de Van Der Pauw. De acuerdo con los resultados, se obtuvo alta transmitancia en el espectro de luz visible, se determinó la fase casiterita del SnO2 y se observó uniformidad de la película en todo el sustrato. Las características ópticas, eléctricas y estructurales obtenidas en la síntesis del material fueron adecuadas para su aplicación como electrodos en celdas solares de tipo Grätzel, con una alta transmitancia (>80%), una baja resistividad (9.28 x 10-03 Ω.cm), una alta densidad de portadores (6.24 x 1019 cm-3). El espesor fue determinado desde el espectro de transmitancia y el tamaño de cristalito fue obtenido desde el difractograma de rayos X por medio de la ecuación de Scherrer.