Depósito de nanocapas InGaN y GaN por ALD sobre silicio para su posible aplicación en fotosensores y celdas solares

"En el presente trabajo se realiza el estudio de las heteroestructuras Si/InGaN y Si/GaN para su aplicación en fotosensores y celdas solares. Para ello, se realizaron simulaciones numéricas a través del software Silvaco atlas, tomando en cuenta datos experimentales y de la literatura. Con el fi...

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Detalhes bibliográficos
Autor: Tepatzi Xahuentitla, Dylan
Formato: tesis de maestría
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:2022
País:México
Recursos:Benemérita Universidad Autónoma de Puebla
Repositorio:Repositorio Institucional de Acceso Abierto RIAA-BUAP
Idioma:español
OAI Identifier:oai:repositorioinstitucional.buap.mx:20.500.12371/16988
Acesso em linha:https://hdl.handle.net/20.500.12371/16988
Access Level:acceso abierto
Palavra-chave:CIENCIAS FÍSICO MATEMÁTICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRA
Dispositivos optoelectrónicos
Celdas solares--Materiales--Investigación
Detectores ópticos--Materiales
Semiconductores
Heteroestructuras
Películas delgadas--Propiedades eléctricas
Películas delgadas--Propiedades ópticas
Descrição
Resumo:"En el presente trabajo se realiza el estudio de las heteroestructuras Si/InGaN y Si/GaN para su aplicación en fotosensores y celdas solares. Para ello, se realizaron simulaciones numéricas a través del software Silvaco atlas, tomando en cuenta datos experimentales y de la literatura. Con el fin, de determinar los parámetros críticos de funcionamiento de los dispositivos que pudiesen mejorar el funcionamiento de los dispositivos optoelectrónicos. Una vez determinados estos valores, se crecieron las películas nanométricas GaN e InGaN en silicio, por la técnica de depósito de capas atómicas Asistida por plasma (PEALD) e investigamos las propiedades eléctricas, ópticas y estructurales de los dispositivos. Demostrando así, la obtención de los materiales lll-nitruros y el funcionamiento de las heteroestructuras Si/GaN y Si/ InGaN como dispositivos optoelectrónicos".