Estudio de la morfología superficial de películas de silicio microcristalino obtenidas mediante el recocido isotérmico de silicio amorfo hidrogenado
Artículo
| Autor: | |
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| Tipo de recurso: | artículo |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2012 |
| País: | México |
| Institución: | Instituto Politécnico Nacional |
| Repositorio: | Repositorio Digital del IPN |
| OAI Identifier: | oai:www.repositoriodigital.ipn.mx:123456789/9035 |
| Acceso en línea: | http://www.repositoriodigital.ipn.mx/handle/123456789/9035 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Silicio amorfo hidrogenado |
| Sumario: | Artículo |
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