Estudio de películas delgadas de Cd1-x Znx Te, para 0<x<1, utilizando la técnica CSVT-FE
Películas delgadas de Cd1-xZnxTe fueron crecidas en substratos de vidrio utilizando la técnica transporte de vapor enespacio reducido combinada con evaporación libre (CSVT-FE, por sus siglas en ingles) usando la coevaporación de CdTey ZnTe. La incorporación del Zn fue controlada por medio de la temp...
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| Formato: | artículo |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2002 |
| País: | México |
| Recursos: | Instituto Politécnico Nacional |
| Repositorio: | Redalyc-IPN |
| OAI Identifier: | oai:redalyc.org:94201502 |
| Acesso em linha: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94201502 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palavra-chave: | Física, Astronomía y Matemáticas Rayos CdZnTe Películas delgadas |
| Resumo: | Películas delgadas de Cd1-xZnxTe fueron crecidas en substratos de vidrio utilizando la técnica transporte de vapor enespacio reducido combinada con evaporación libre (CSVT-FE, por sus siglas en ingles) usando la coevaporación de CdTey ZnTe. La incorporación del Zn fue controlada por medio de la temperatura de la fuente de ZnTe. La composición de laspelículas fue determinada por medio de la espectroscopia de energía dispersiva de rayos-x y la difracción de rayos-x fueutilizada para evaluar la transición estructural del CdTe a ZnTe. Mediante espectroscopia de transmisión a temperaturaambiente se determino el ancho de la banda prohibida de la aleación. El parámetro de red y el ancho de energía prohibidade las muestras muestran una variación asociada con el cambio en la concentración de Zn |
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