ANÁLISIS DE INTERFEROGRAMAS CON TÉCNICAS DE FRECUENCIA PORTADORA E INTERFEROMETRÍA DE AMARRE DE FASE

"En la presente tesis se elaboraron las herramientas para desarrollar el análisis de interferogramas usando IF, de IAF, y pruebas nulas con IAF. Se hace un marcado énfasis en la IAF, que es uno de los puntos más fuertes de este trabajo. Se propone un sistema basado en el interferómetro Murty pa...

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Detalhes bibliográficos
Autor: Juan Martin Carpio Valadez
Tipo de documento: tese
Estado:Versão publicada
Data de publicação:1995
País:México
Recursos:Centro de Investigaciones en Óptica
Repositório:Repositorio Institucional CIO
Idioma:espanhol
OAI Identifier:oai:cio.repositorioinstitucional.mx:1002/929
Acesso em linha:http://cio.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1002/929
Access Level:Acceso aberto
Palavra-chave:info:eu-repo/classification/Autor/Interferometría
info:eu-repo/classification/Autor/Interferogramas
info:eu-repo/classification/Autor/Frecuencia portadora temporal
info:eu-repo/classification/Autor/Amarre de fase
info:eu-repo/classification/cti/1
info:eu-repo/classification/cti/22
info:eu-repo/classification/cti/2209
Descrição
Resumo:"En la presente tesis se elaboraron las herramientas para desarrollar el análisis de interferogramas usando IF, de IAF, y pruebas nulas con IAF. Se hace un marcado énfasis en la IAF, que es uno de los puntos más fuertes de este trabajo. Se propone un sistema basado en el interferómetro Murty para probar superficies asféricas en la cual se combinaron las ideas de interferometría de desplazamiento lateral e interferometría de amarre de fase."

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