ANÁLISIS DE INTERFEROGRAMAS CON TÉCNICAS DE FRECUENCIA PORTADORA E INTERFEROMETRÍA DE AMARRE DE FASE

"En la presente tesis se elaboraron las herramientas para desarrollar el análisis de interferogramas usando IF, de IAF, y pruebas nulas con IAF. Se hace un marcado énfasis en la IAF, que es uno de los puntos más fuertes de este trabajo. Se propone un sistema basado en el interferómetro Murty pa...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autor: Juan Martin Carpio Valadez
Tipo de recurso: tesis doctoral
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:1995
País:México
Institución:Centro de Investigaciones en Óptica
Repositorio:Repositorio Institucional CIO
Idioma:español
OAI Identifier:oai:cio.repositorioinstitucional.mx:1002/929
Acceso en línea:http://cio.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1002/929
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:info:eu-repo/classification/Autor/Interferometría
info:eu-repo/classification/Autor/Interferogramas
info:eu-repo/classification/Autor/Frecuencia portadora temporal
info:eu-repo/classification/Autor/Amarre de fase
info:eu-repo/classification/cti/1
info:eu-repo/classification/cti/22
info:eu-repo/classification/cti/2209
Descripción
Sumario:"En la presente tesis se elaboraron las herramientas para desarrollar el análisis de interferogramas usando IF, de IAF, y pruebas nulas con IAF. Se hace un marcado énfasis en la IAF, que es uno de los puntos más fuertes de este trabajo. Se propone un sistema basado en el interferómetro Murty para probar superficies asféricas en la cual se combinaron las ideas de interferometría de desplazamiento lateral e interferometría de amarre de fase."