Dynamic fine-grain body biasing of caches with latency and leakage 3T1D-based monitors

In this paper, we propose a dynamically tunable fine-grain body biasing mechanism to reduce active & standby leakage power in caches under process variations.

Detalles Bibliográficos
Autores: Ganapathy, Shrikanth, Canal Corretger, Ramon|||0000-0003-4542-204X, González Colás, Antonio María|||0000-0002-0009-0996, Rubio Sola, Jose Antonio|||0000-0003-1625-1472
Tipo de recurso: informe técnico
Fecha de publicación:2011
País:España
Institución:Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Repositorio:UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Idioma:inglés
OAI Identifier:oai:upcommons.upc.edu:2117/15019
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/2117/15019
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:DRAM chips
Energy consumption
Low voltage integrated circuits.
SRAM chips
Circuits integrats
Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica::Arquitectura de computadors
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Electrònica de potència
Descripción
Sumario:In this paper, we propose a dynamically tunable fine-grain body biasing mechanism to reduce active & standby leakage power in caches under process variations.