Gallium gradients in chalcopyrite thin films: Depth profile analyses of films grown at different temperatures

The following article appeared in Journal of Applied Physics 110.9 (2011): 093509 and may be found at http://scitation.aip.org/content/aip/journal/jap/110/9/10.1063/1.3656986

Detalles Bibliográficos
Autores: Mönig, Harry, Kaufmann, Christian Alexander, Fischer, Ch Herbert, Grimm, Alexander, Caballero, Raquel, Johnson, Benjamin D., Eicke, Axel, Lux-Steiner, Martha Ch H, Lauermann, Iver
Tipo de recurso: artículo
Fecha de publicación:2011
País:España
Institución:Universidad Autónoma de Madrid
Repositorio:Biblos-e Archivo. Repositorio Institucional de la UAM
Idioma:inglés
OAI Identifier:oai:repositorio.uam.es:10486/662079
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/10486/662079
https://dx.doi.org/10.1063/1.3656986
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Gallium
Copper
Thin film growth
Indium
Metallic thin films
Física
Descripción
Sumario:The following article appeared in Journal of Applied Physics 110.9 (2011): 093509 and may be found at http://scitation.aip.org/content/aip/journal/jap/110/9/10.1063/1.3656986

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