Magnetic functionalization of scanning probes by focused electron beam induced deposition technology

This article belongs to the Special Issue Advances in Magnetic Force Microscopy.

Detalles Bibliográficos
Autores:	Pablo-Navarro, Javier, Sangiao, Soraya, Magén, César, Teresa, José María de
Tipo de recurso:	artículo
Estado:	Versión publicada
Fecha de publicación:	2021
País:	España
Institución:	Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:	DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:	oai:dnet:digitalcsic_::b246519ecfe96aa952d6f0c4478cab00
Acceso en línea:	http://hdl.handle.net/10261/265977
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Nanomagnetism Three-dimensional Focused electron beam induced deposition Magnetic nanowires Nanolithography Nanofabrication

Descripción
Sumario:	This article belongs to the Special Issue Advances in Magnetic Force Microscopy.