Long-term performance of magnetic force microscopy tips grown by focused electron beam induced deposition

This article belongs to the Special Issue Advanced Sensing for Scanning Probe Microscopy.

Detalles Bibliográficos
Autores:	Escalante-Quiceno, Alix Tatiana, Novotný, Ondřej, Neuman, Jan, Magén, César, Teresa, José María de
Tipo de recurso:	artículo
Estado:	Versión publicada
Fecha de publicación:	2023
País:	España
Institución:	Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:	DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:	oai:digital.csic.es:10261/329920
Acceso en línea:	http://hdl.handle.net/10261/329920
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Focused electron beam induced deposition Nanofabrication Magnetic tips Magnetic force microscopy

Descripción
Sumario:	This article belongs to the Special Issue Advanced Sensing for Scanning Probe Microscopy.