On the true optical properties of zinc nitride
Copyright (2011) American Institute of Physics. The following article appeared in Applied Physics Letters 99.23 (2011): 232112-3 and may be found at http://apl.aip.org/
| Autores: | , , , , |
|---|---|
| Tipo de recurso: | artículo |
| Fecha de publicación: | 2011 |
| País: | España |
| Institución: | Universidad Autónoma de Madrid |
| Repositorio: | Biblos-e Archivo. Repositorio Institucional de la UAM |
| Idioma: | inglés |
| OAI Identifier: | oai:repositorio.uam.es:10486/13947 |
| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/10486/13947 https://dx.doi.org/10.1063/1.3663859 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Zinc oxide films Ellipsometry Rutherford backscattering Física |
| Sumario: | Copyright (2011) American Institute of Physics. The following article appeared in Applied Physics Letters 99.23 (2011): 232112-3 and may be found at http://apl.aip.org/ |
|---|