Bimodal Atomic Force Microscopy with a Torsional Eigenmode for Highly Accurate Imaging of Grain Orientation in Organic Thin Films

Tiene un dataset asociado, con el mismo título.

Detalles Bibliográficos
Autores:	Arilla, Rodrigo, Barrena, Esther, Ocal, Carmen, Martín-Jiménez, Daniel
Tipo de recurso:	artículo
Estado:	Versión publicada
Fecha de publicación:	2025
País:	España
Institución:	Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:	DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:	oai:digital.csic.es:10261/388502
Acceso en línea:	http://hdl.handle.net/10261/388502 https://api.elsevier.com/content/abstract/scopus_id/86000382516
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Atomic force microscopy Bimodal AFM Grain boundaries Organic thin films Polycrystalline thin films Torsional eigenmode

Descripción
Sumario:	Tiene un dataset asociado, con el mismo título.