Additional SEM double deposition anneal; annealed and etched in HF; histogram Au-NP diameter; automated measurement; annealing different temperatures; annealing in air and vacuum; quadruple deposition 20 nm; scattering and absorption cross section; reflectance spectra substrate thickness; Raman spec...
Detalles Bibliográficos
| Autores: |
Jonker, Dirk,
Srivastava, Ketki,
Lafuente, Marta,
Susarrey-Arce, Arturo,
Stam, Ward van der,
Berg, Albert van den,
Odijk, Mathieu,
Gardeniers, Han |
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| Tipo de recurso: | conjunto de datos
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| Fecha de publicación: | 2023 |
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| País: | España |
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| Institución: | Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) |
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| Repositorio: | DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC |
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| OAI Identifier: | oai:digital.csic.es:10261/350605 |
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| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/10261/350605
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| Access Level: | acceso abierto |
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