Combined grazing incidence RBS and TEM analysis of luminescent nano-SiGe/SiO2 multilayers.

Detalles Bibliográficos
Autores:	Kling, Andreas, Rodríguez Domínguez, Andrés\|\|\|0000-0001-8851-1777, Sangrador García, Jesús\|\|\|0000-0001-9582-8692, Ortiz Esteban, María Isabel, Rodríguez Rodríguez, Tomás\|\|\|0000-0002-4779-5862, Ballesteros Pérez, Carmen Inés, Soares, J.C.
Tipo de recurso:	artículo
Fecha de publicación:	2008
País:	España
Institución:	Universidad Politécnica de Madrid
Repositorio:	Archivo Digital UPM
OAI Identifier:	oai:oa.upm.es:2227
Acceso en línea:	https://oa.upm.es/2227/
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Nanostructure multilayers SiGe nanoparticles LPCVD Grazing incidence RBS TEM.

Descripción
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