Advanced applications of scanning electron microscopy in geology

Podeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166

Detalles Bibliográficos
Autores:	García Veigas, Francisco Javier, Prats Miralles, Eva, Domínguez Ximénez, Anna, Villuendas Latorre, Aránzazu
Tipo de recurso:	capítulo de libro
Estado:	Versión publicada
Fecha de publicación:	2012
País:	España
Institución:	Universidad de Barcelona
Repositorio:	Dipòsit Digital de la UB
OAI Identifier:	oai:diposit.ub.edu:2445/32147
Acceso en línea:	https://hdl.handle.net/2445/32147
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Microscòpia electrònica d'escombratge Geologia Anàlisi instrumental Scanning electron microscopy Geology Instrumental analysis

Descripción
Sumario:	Podeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166