Advanced applications of scanning electron microscopy in geology

Podeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166

Detalhes bibliográficos
Autores:	García Veigas, Francisco Javier, Prats Miralles, Eva, Domínguez Ximénez, Anna, Villuendas Latorre, Aránzazu
Formato:	capítulo de livro
Estado:	Versión publicada
Fecha de publicación:	2012
País:	España
Recursos:	Varias* (Consorci de Biblioteques Universitáries de Catalunya, Centre de Serveis Científics i Acadèmics de Catalunya)
Repositorio:	Recercat. Dipósit de la Recerca de Catalunya
OAI Identifier:	oai:recercat.cat:2445/32147
Acesso em linha:	https://hdl.handle.net/2445/32147
Access Level:	acceso abierto
Palavra-chave:	Microscòpia electrònica d'escombratge Geologia Anàlisi instrumental Scanning electron microscopy Geology Instrumental analysis

Descrição
Resumo:	Podeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166