High aspect-ratio sub-500 nm UV-PDMS bilayer stamps by means of hybrid thermal-ultraviolet curing for resonant nanopillars fabrication through soft UV-NIL

Detalles Bibliográficos
Autores: Tramarin, Luca|||0000-0001-5801-8658, Casquel del Campo, Rafael|||0000-0003-2433-9159, Mañueco Rubio, Iñigo, Holgado Bolaños, Miguel|||0000-0001-9299-1371
Tipo de recurso: artículo
Fecha de publicación:2023
País:España
Institución:Universidad Politécnica de Madrid
Repositorio:Archivo Digital UPM
OAI Identifier:oai:oa.upm.es:94420
Acceso en línea:https://oa.upm.es/94420/
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:arrays
Degradation
IMPRINT
MOLD RELEASE
Nanoholes
Nanopillars
Performance
RNPs
Soft UV-NIL
UV-PDMS
NANOHOLES
nanopillars
NIL
Silicon Dioxide
Descripción
Descripción no disponible.