Formation of Al nanostructures on Alq3: An in situ grazing incidence small angle X-ray scattering study during radio frequency sputter deposition

6 pags., 4 figs., 1 sch.

Detalles Bibliográficos
Autores:	Yu, Shun, Santoro, Gonzalo, Sarkar, Kuhu, Dicke, Benjamin, Wessels, Philipp, Bommel, Sebastian, Döhrmann, Ralph, Perlich, Jan, Kuhlmann, Marion, Metwalli, Ezzeldin, Risch, Johannes F.H., Schwartzkopf, Matthias, Drescher, Markus, Müller-Buschbaum, Peter, Roth, Stephan V.
Tipo de recurso:	artículo
Estado:	Versión aceptada para publicación
Fecha de publicación:	2013
País:	España
Institución:	Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:	DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:	oai:digital.csic.es:10261/343151
Acceso en línea:	http://hdl.handle.net/10261/343151 https://api.elsevier.com/content/abstract/scopus_id/84884539549
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	GISAXS Interface Self-assembly Sputtering Thin film morphology

Descripción
Sumario:	6 pags., 4 figs., 1 sch.