Caracterización de dispositivos de lámina delgada mediante microscopía óptica, electrónica de barrido y microanálisis
En este trabajo se presentan los resultados de la aplicación de las técnicas de microscopía óptica y electrónica de barrido (SEM), así como de microanálisis para la caracterización de dispositivos optoelectrónicos de lámina delgada.
| Autores: | , |
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| Tipo de recurso: | artículo |
| Fecha de publicación: | 2006 |
| País: | España |
| Institución: | Universidad Politécnica de Cartagena(UPCT) |
| Repositorio: | Repositorio Digital UPCT |
| OAI Identifier: | oai:repositorio.upct.es:10317/392 |
| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/10317/392 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Microscopía óptica Electrónica de barrido Microanálisis Ciencia de los Materiales e Ingeniería Metalúrgica |
| Sumario: | En este trabajo se presentan los resultados de la aplicación de las técnicas de microscopía óptica y electrónica de barrido (SEM), así como de microanálisis para la caracterización de dispositivos optoelectrónicos de lámina delgada. |
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