Cita APA

Bermúdez Olivares, M. D., & Vázquez, G. (2006). Caracterización de dispositivos de lámina delgada mediante microscopía óptica, electrónica de barrido y microanálisis.

Citación estilo Chicago

Bermúdez Olivares, María Dolores, y G. Vázquez. Caracterización De Dispositivos De Lámina Delgada Mediante Microscopía óptica, Electrónica De Barrido Y Microanálisis. 2006.

Cita MLA

Bermúdez Olivares, María Dolores, y G. Vázquez. Caracterización De Dispositivos De Lámina Delgada Mediante Microscopía óptica, Electrónica De Barrido Y Microanálisis. 2006.