Comment on “Nanometer resolution piezoresponse force microscopy to study deep submicron ferroelectric and ferroelastic domains” [ Appl. Phys. Lett. 94, 162903 (2009)]

2 páginas, 1 figura.

Bibliographic Details
Authors: Vlooswijk, A. H. G., Catalán, Gustau, Noheda, Beatriz
Format: article
Publication Date:2010
Country:España
Institution:Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repository:DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:oai:digital.csic.es:10261/44534
Online Access:http://hdl.handle.net/10261/44534
Access Level:Open access
Description
Summary:2 páginas, 1 figura.