Comment on “Nanometer resolution piezoresponse force microscopy to study deep submicron ferroelectric and ferroelastic domains” [ Appl. Phys. Lett. 94, 162903 (2009)]
2 páginas, 1 figura.
| Autores: | , , |
|---|---|
| Tipo de recurso: | artículo |
| Fecha de publicación: | 2010 |
| País: | España |
| Institución: | Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) |
| Repositorio: | DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC |
| OAI Identifier: | oai:digital.csic.es:10261/44534 |
| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/10261/44534 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Sumario: | 2 páginas, 1 figura. |
|---|