Refractive indices and extinction coefficients of p-type doped Germanium wafers for photovoltaic and thermophotovoltaic devices

Detalles Bibliográficos
Autores:	Blanco Ollero, Eduardo\|\|\|0000-0002-2234-1477, Martín Díez, Pablo\|\|\|0000-0002-6075-1661, Dominguez Sanchez, María Carmen, Fernández Palacios, Pablo, Lombardero Hernández, Iván\|\|\|0000-0002-3157-1004, Sánchez Pérez, Clara\|\|\|0000-0003-3291-8601, García Vara, Iván\|\|\|0000-0002-9895-2020, Algora del Valle, Carlos\|\|\|0000-0003-1872-7243, Gabás Pérez, María Mercedes\|\|\|0000-0002-9626-6131
Tipo de recurso:	artículo
Fecha de publicación:	2024
País:	España
Institución:	Universidad Politécnica de Madrid
Repositorio:	Archivo Digital UPM
OAI Identifier:	oai:oa.upm.es:91352
Acceso en línea:	https://oa.upm.es/91352/
Access Level:	acceso abierto
Palabra clave:	Ge wafers spectroscopic ellipsometry complex refractive index Ge solar cells thermophotovoltaics solar cell modelling

Descripción
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