Analysis of the surface state of epi-ready Ge wafers
| Autores: | , , , , , , , |
|---|---|
| Formato: | artículo |
| Fecha de publicación: | 2012 |
| País: | España |
| Recursos: | Universidad Politécnica de Madrid |
| Repositorio: | Archivo Digital UPM |
| OAI Identifier: | oai:oa.upm.es:16223 |
| Acesso em linha: | https://oa.upm.es/16223/ |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palavra-chave: | Germanium wafers III–V solar cells Photoelectron spectroscopy |
| Descrição não disponível. |