Memoria de los períodos de docencia e investigación para obtener el diploma de estudios avanzados

El libro presenta la memoria de los períodos de docencia e investigación del autor, Luis José Saiz Adalid, conducentes a la obtención del diploma de estudios avanzados y el reconocimiento de la suficiencia investigadora. Especial mención merece el trabajo de investigación tutelado, que lleva por tít...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autor: Saiz-Adalid, Luis-J.|||0000-0002-4868-2050
Tipo de recurso: libro
Fecha de publicación:2010
País:España
Institución:Universitat Politècnica de València (UPV)
Repositorio:RiuNet. Repositorio Institucional de la Universitat Politécnica de Valéncia
Idioma:español
inglés
OAI Identifier:oai:riunet.upv.es:10251/178539
Acceso en línea:https://riunet.upv.es/handle/10251/178539
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Confiabilidad
Tolerancia a fallos
Modelos de fallos
Fallos intermitentes
Hardware
Inyección de fallos
ARQUITECTURA Y TECNOLOGIA DE COMPUTADORES
Descripción
Sumario:El libro presenta la memoria de los períodos de docencia e investigación del autor, Luis José Saiz Adalid, conducentes a la obtención del diploma de estudios avanzados y el reconocimiento de la suficiencia investigadora. Especial mención merece el trabajo de investigación tutelado, que lleva por título "Análisis de nuevos modelos de fallos intermitentes para nuevas tecnologías". El autor, integrado en el grupo de sistemas tolerantes a fallos (GSTF) de la Universidad Politécnica de Valencia, analiza las causas físicas que pueden provocar fallos intermitentes en los circuitos integrados y sus efectos a nivel lógico, para obtener modelos de fallos que sean representativos para el nivel de abstracción que se utilice. Aplicando estos modelos de fallos a modelos de sistemas informáticos se pueden realizar campañas de inyección de fallos que permiten analizar el comportamiento de dicho sistema ante la presencia de fallos.