Memoria de los períodos de docencia e investigación para obtener el diploma de estudios avanzados
El libro presenta la memoria de los períodos de docencia e investigación del autor, Luis José Saiz Adalid, conducentes a la obtención del diploma de estudios avanzados y el reconocimiento de la suficiencia investigadora. Especial mención merece el trabajo de investigación tutelado, que lleva por tít...
| Autor: | |
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| Tipo de recurso: | libro |
| Fecha de publicación: | 2010 |
| País: | España |
| Institución: | Universitat Politècnica de València (UPV) |
| Repositorio: | RiuNet. Repositorio Institucional de la Universitat Politécnica de Valéncia |
| Idioma: | español inglés |
| OAI Identifier: | oai:riunet.upv.es:10251/178539 |
| Acceso en línea: | https://riunet.upv.es/handle/10251/178539 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Confiabilidad Tolerancia a fallos Modelos de fallos Fallos intermitentes Hardware Inyección de fallos ARQUITECTURA Y TECNOLOGIA DE COMPUTADORES |
| Sumario: | El libro presenta la memoria de los períodos de docencia e investigación del autor, Luis José Saiz Adalid, conducentes a la obtención del diploma de estudios avanzados y el reconocimiento de la suficiencia investigadora. Especial mención merece el trabajo de investigación tutelado, que lleva por título "Análisis de nuevos modelos de fallos intermitentes para nuevas tecnologías". El autor, integrado en el grupo de sistemas tolerantes a fallos (GSTF) de la Universidad Politécnica de Valencia, analiza las causas físicas que pueden provocar fallos intermitentes en los circuitos integrados y sus efectos a nivel lógico, para obtener modelos de fallos que sean representativos para el nivel de abstracción que se utilice. Aplicando estos modelos de fallos a modelos de sistemas informáticos se pueden realizar campañas de inyección de fallos que permiten analizar el comportamiento de dicho sistema ante la presencia de fallos. |
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