Sistema automático para determinar estructuras cristalinas por difracción de rayos-X

Se desarrolla en este trabajo un sistema de calculo para la determinación de estructuras cristalinas por difracción de rayos-X. Las caracteristicas de este sistema son: Incorporar los métodos y las técnicas más recientes. Obtener la máxima velocidad de ejecución posible. Obtener la total automatizac...

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Detalhes bibliográficos
Autores: Solans, Xavier, 1949-2007, Miravitlles Torras, Carles
Formato: artículo
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:1978
País:España
Recursos:Universidad de Barcelona
Repositorio:Dipòsit Digital de la UB
OAI Identifier:oai:diposit.ub.edu:2445/18191
Acesso em linha:https://hdl.handle.net/2445/18191
Access Level:acceso abierto
Palavra-chave:Estructura cristal·lina (Sòlids)
Raigs X
Radiocristal·lografia
Layer structure (Solids)
X-rays
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